冲击试样缺口投影仪PCB抄板及样机仿制技术实例
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冲击试样缺口投影仪是一种工业级投影仪产品，它已经成为目前冶金、锅炉压力容
器、车船和工程机械制造及科研等部门理化试验室的必备专用设备，并可用于机械
零件的外型轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具检验、仪表元件和半导体
器件的投影检测。
以下是兴宇在反向研究领域的典型成果案例之一，该冲击试样缺口投影仪根据目前
国内广大用户的实际需求和GB/T229—94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击
试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质
量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓
放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被
检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。
随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方
法，目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械制造等行业已普遍采用夏比V型缺口
冲击试验取代使用了几十年的梅式U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验，
由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求
R0.25mm±0.025mm）,故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键
问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是
R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的巨大
陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的报废或合格两种截然相反的不同结
局。为保证加工的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要质量控制
手段，目前用光学投影放大检查是唯一切实可行，并能保证检查质量的方法。
冲击试样缺口投影仪
工作原理
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照到被测物，再经物镜将被照射物体放
大的轮廓投射在投影屏上。根据实际需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系
列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投
射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射形成正像，在投影屏上所看到的图形与
实际试样放置的方位一致。
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宽带信号调理模块
宽带信号调理模块是兴宇在电视机反向工程开发领域的典型产品之一，目前兴
宇已成功实现了该产品全套克隆及二次开发，积累了产品PCB文件图、原理图、物
料清单等全套技术资料，可协助客户进行产品研究开发、维护维修以及直接批量生
产。
技术参数：
输入信号范围：±5V
输入通道数：4通道
输入增益（跳线可选）：1，2，5，10，20，50，100，200，500，1000
增益精度：0.6%
输出范围：±5V
输入阻抗：≥1MΩ
输出阻抗：并联输出100Ω
扫描输出：330Ω
非线性失真：≤±0.8%
工作带宽：0-100KHz（-3dB）
滤波类型：三端RC
滤波特性：4Hz（-3dB） 100KHz（-3dB）
闭路噪声：＜-40dB
信噪比：＞45dB
通道温度漂移：40ppm/℃
通道隔离度：＞60dB
隔离电压：≥250V
工作温度：0℃-50℃
存储温度：-20℃-70℃
相对湿度：5%-85%（85%指温度在25℃时）
振动试验环境：10～500Hz，2.4grms。
物理尺寸：172×203×60mm
重量：0.7Kg
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