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种子老化试验箱--PCB克隆案例

时间:2010-01-09 01:26:59


种子老化试验箱--PCB克隆案例
关键词:PCB、样机制作
   兴宇是由一批年轻朝气蓬勃的开发工程师组成,精通各种软硬件开发技术,能为您提供快速,全面的服务,包括为您设计各类电子产品软件及其硬件设计开发。

种子老化试验箱功能特点:
微电脑智能化温控显示,PID自整定,自动示温度示警,漏电保护,时间设置,控温精确可靠
双重门结构,内门采用钢化玻璃门,观察箱内情况时不影响温度
不锈钢工作室,精密加热方式,温度均匀,且断电后,仍能保持较长时间的恒温
LH150S型采用精确控温及平衡加湿
整机配置中含老化盒


种子老化试验箱/厦门老化试验箱号列表:

型号


 LH-80

 

 LH-150

 

 LH-150S

 

 
温控范围

 

 RT+10-65℃

 

 5-65℃(有压缩机)


 
控温精度


 ≤±0.5℃


 
最大湿度

 

设定范围


 ————


 98%RH


 
控湿精度种子老化试验箱--PCB克隆案例


 ————


 ±5% RH


 
容积


 80L


 150L

注:兴宇现诚挚对外转让此细节成功案例的技术资料,有意请联系。