“反向至尊”是兴宇奋斗的目标，二十年来，兴宇从没有消退过创业时的激情，从未减缓过前进的步伐，迄今为止，兴宇成功地攻克了数万件电子设备的技术密码，并成功实现了二次开发，在业界树立了稳固的龙头地位。兴宇在研究对象的确立方面，遵循“与时俱进，以市场为导向”的原则，测厚仪系列 X射线渡层测厚仪、孔铜测厚仪、铜箔测厚仪、涂层测厚是兴宇适应新形势的发展，组织专业技术人员研究的又一成功案例，有关该设备的功能情况介绍如下：
可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 
可测量厚度范围：原子序 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦<BR>高压：0-50KV(程控)
准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm<BR>自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
兴宇期待您的合作